我院闫爱斌教授受国际测试会议亚洲分会组委会邀请，赴日本松江参加第七届国际测试会议亚洲分会会议IEEE ITC-Asia'23，并作题为《A Low Overhead and Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch》、《Design of a Novel Latch with Quadruple-Node-Upset Recovery for Harsh Radiation Hardness》和《Design of A Highly Reliable and Low-Power SRAM With Double-Node Upset Recovery for Safety-critical Applications》的分组报告。

本次会议由IEEE TTTC（测试技术委员会）、IEEE CS（计算机协会）、IEEE CEDA（电子设计自动化协会）主办，广岛城市大学、九州工业大学、爱媛大学承办，于2023年9月12日至14日在日本松江市召开。

闫教授针对宇航集成电路抗软错误的容错设计问题，提出并汇报了低开销且双节点翻转自恢复的锁存器、强辐射环境下四节点翻转自恢复的锁存器、安全关键应用下双节点翻转自恢复的高可靠低功耗SRAM存储单元。录用的《A Low Overhead and Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch》论文获得最佳论文提名奖，会议最佳论文奖将择期公布。

闫爱斌教授先后与九州工业大学温晓青教授（IEEE Fellow）、IEEE TTTC理事长Yervant Zorian（IEEE Fellow）合影留念。

（闫爱斌/文 闫爱斌/图 黄正峰/审核）